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      開爾文探針

     開爾文探針

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    開爾文探針的特點

    在半導體和導電樣品中全新技術的開爾文探針

    環境空氣條件下測試(具有不同溫度、濕度真空監測)

    具有非常高的精度和準確度

    信號非常穩定

    可實現遠程技術服務支持

     

     

     

     

    應用

       CPD測量(頂尖參考標準的功函數)             (通過黃金網紋的可見光)

       表面光電壓測量(兼容同品牌的照射器與單色器模塊)

       腐蝕測量

       吸附/解吸和表面電壓的研究    

       活性催化的研究

     

     

     

    開爾文探針技術規格:

    電壓范圍:-5V5V

    數據采集:16-bit ADC module

    測試精度:0.1mev                               (靜電屏蔽環境干擾的保護)

    樣品架:X-Y stage

    Z 端:  5um resolution laser positioning

    金網:  (Φ 2 mm mesh) – light „see through”

     

     

     

    軟件部分:

     

           
       
     
     

     

     

     

     

     

     

     

     

    (銳鈦礦在黑暗中的腐蝕性)                           CPD值的鑒定

                                                       黃金網紋和樣品在不同距離

                                                        非常明顯的5 pA的寄生電流

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

                                                      光照下的銳鈦礦在黑暗中的腐蝕


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