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      開爾文探針表面光電壓譜儀

    開爾文探針表面光電壓譜儀

    系統介紹

         我們的單點開爾文探針系統作為KP技術范圍的開端。這種經濟型系統使用戶能夠在匹配調查樣本許多不同模式下快速地記錄固定數據。對于快速事件,開爾文探針系統可以記錄每分鐘功函數測量,或者該系統將跟蹤慢功函數隨時間的演化。而且提供了完美的平臺可以方便地升級為掃描、空氣光電效應和表面光電壓附加模塊。

    表面光電壓譜系統為深入研究光敏感材料(例如有機半導體,太陽能電池或者光敏染料)提供一種完美的一體化解決方案。此系統提供了一個全面的測試模式包括利用內置的光學斬波器來進行直流或者交流表面光電壓研究。全數字控制的所有參數, 包括光強度和波長(400 - 700 nm400 - 1000 nm)提供了一種研究樣品的質量,表面特性和缺陷狀態。

    對于那些光敏感材料(例如:太陽能電池和光敏染料)有興趣的研究。SPV010或者SPV020模塊是最理想的升級為我們的任意開爾文探針系統。150瓦直流可變光強調節石英鹵鎢燈泡以達到開路電位或評估最新的卷對卷硅太陽能電池的質量。

    產品特點         


    光譜范圍:400700nm SPS040光譜范圍:400700nm

    強白光石英鹵素燈光源

    直流和交流測試模式

    兼容所有的開爾文探針系統

     

    系統技術參數

    探針材料/直徑

    黃金探針頭/直徑2mm

    功函數分辨率

    3meV

    探針跟蹤

    25mm手動轉換臺

    可視化

    單點功函數/接觸電位差掃描

    示波器

    TFT數字示波器實時信號標志

    測試樣品

    鍍金鋁質樣品

    控制方式

    專用軟件電腦控制

    即插即用

    專用USB接口

    探測系統

    寄生電容非零專利技術

    防護罩

    450*450mm光學防護罩

    光學系統

    彩色相機變焦鏡頭和監控

    質保期

    12個月


     

    產品應用

    有機和無機半導體    

    金屬

    薄膜

    太陽能電池和有機光伏腐蝕

     

     

     

       

     

     


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