• <kbd id="gwoki"></kbd>
    <s id="gwoki"><code id="gwoki"></code></s>
  • <tbody id="gwoki"><center id="gwoki"></center></tbody>
  • 最新消息:
    簡體中文 | English
    首 頁 公司概況 產品展示 行業應用 公司新聞 服務中心 聯系我們
      >>產品與服務
      >>行業應用
     
    蘭州化學物理研究所開爾文探針
        

     蘭州化學物理研究所開爾文探針

    開爾文探針(Kelvin Probe)—RTK是一種基于振動電容的非接觸無損氣相環境金屬表面電位的測量技術,用于測量材料的功函數(Work Function)或表面勢(Surface Potential)。它可以用于檢測氣相環境中因溫度、濕度、表面的化學、電學、力學、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢的微小變化,是一種高靈敏的表面電化學分析技術,是唯一能夠測定氣相環境中腐蝕電極表面電位的方法

     

    開爾文探針的特點,在半導體和導電樣品中

    Ø  全新技術的開爾文探針

    Ø  環境空氣條件下做過測試(溫度和濕度監測)

    Ø  具有非常高的精度和準確度

    Ø  信號非常穩定

    Ø  可實現遠程技術服務支持

     

    應用

    Ø  CPD測量(頂尖參考標準的功函數)

    Ø  表面光電壓測量(兼容同品牌的照射器與單色器模塊)

    Ø  腐蝕測量

    Ø  吸附/解吸和表面電壓的研究

    Ø  活性催化的研究

     

     

     

     


    版權所有 Copyright (C) 2018-2020 上海埃飛電子科技有限公司 All Rights Reserved 滬ICP備16036014號-2 產品展示| 行業應用 | 服務中心 | 聯系我們
    亚洲综合一区无码精品,成 人 黄 色 小说网站,国产欧美一区二区精品,人妻无码人妻有码中文字幕,亚洲综合色自拍一区